Opt-Scope
A feldolgozni kívánt részegységek és kontúrprofilok 3D felületi szerkezetének fehérfény-interferométerrel történő érintésmentes és gyors méréséhez a nano mérési tartományban.
Függőleges scannelési tartomány: 20 mm
Felbontás: 0,1 Nm
Pontosság: (0,08±/2H/100) µm
Felbontás: 0,1 Nm
Pontosság: (0,08±/2H/100) µm
- Optikai/háromdimenziós felületi egyenetlenségek mérésére szolgáló felületmérő eszköz (ISO25178-2)
- Időtakarékos, akár 100-szor gyorsabb a stylus-szal történő taktilis mérésnél
- A szabadalmaztatott DEAP-analízis speciális fejlesztésű algoritmussal gondoskodik az adatok előnyösebb rendszerezéséről.
- A revolverváltó rendszerrel kiválasztható az adott mérési feladathoz megfelelő lencse
- A mérési tartomány bővítéséhez CNC vezérlésű X-Y asztal vásárolható (Stitching – adatfűzés)
- A rendszerhez aktív csillapítás is tartozik a legnagyobb pontosság biztosítása érdekében
