SURFCOM 130
Kompakt ve güçlü yüzey ölçüm cihazı
Atölye ve kalite ölçüm odası için esnek, kolay kullanım
X ekseninin yüksek hassasiyetteki doğrusallığı, 0,3 μm / 50 mm
800 μm ölçme aralığı, 12 nm çözünürlüklü serbest prob sistemi
3,5 inç dokunmatik renkli ekran
X ekseninin yüksek hassasiyetteki doğrusallığı, 0,3 μm / 50 mm
800 μm ölçme aralığı, 12 nm çözünürlüklü serbest prob sistemi
3,5 inç dokunmatik renkli ekran
- Tüm uluslararası standartlar DIN EN ISO / CNOMO / ASME / JIS
- 7 dil seçeneği, Almanca, İngilizce, Fransızca, İspanyolca, Portekizce, İtalyanca, Japonca
- Entegre termal yazıcı
- PC Kartı için bellek yuvası ve ölçülen verilerin PC’ye güvenli bir şekilde aktarılması için RSC 232 ara birimi
