UF3000EX-e

Testeur sous pointes entièrement automatisé – disponible pour une multitude d’applications spéciales

Pas de compromis en matière de débit

Grande flexibilité d’application

Navigation avec la précision du point

Mesure sans contact

Pour wafers de 200 à 300 mm de diamètre – également types de wafers spéciaux
Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvel algorithme assurant un débit extrêmement élevé
Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer