UF3000EX-e

Wafer prober automatico, disponibile per un gran numero di applicazioni speciali

Senza compromessi in fatto di rendimento

Uso estremamente versatile

Grande precisione di navigazione

Misurazione senza contatto

Per wafer da 200 a 300 mm di diametro, anche per tipi di wafer speciali
Unità di azionamento XY Stage di nuovo sviluppo e nuovo algoritmo per un rendimento estremamente elevato
Piattaforma Z migliorata per la massima forza di prova, per un contatto uniforme sulle probe card High Pin Count di grande superficie
Schermo tattile LCD da 15 pollici per agevolare il comando
Optical Target Scope (OTS) per misurare con grande precisione le posizioni di probe card e chuck
Tri-Color 3-Level Magnifying per rilevamenti a colori e 3 piani di ingrandimento
Funzione display di navigazione: basta toccare la mappa dei wafer per giungere al qualsiasi punto del wafer desiderato