UF3000EX-e
Teljesen automata Wafer Prober – számos különleges alkalmazáshoz rendelkezésre áll
Nem ismer kompromisszumokat az áteresztést illetően
Rendkívül rugalmasan alkalmazható
Pontos navigáció
Érintésmentes mérés
Rendkívül rugalmasan alkalmazható
Pontos navigáció
Érintésmentes mérés
- 200-től legfeljebb 300 mm átmérőjű lapkákhoz – különleges lapkatípusokhoz is
- Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új algoritmus a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
- Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
- A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
- Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
- Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez 3 nagyítási fokozatban
- Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához
