UF3000EX
A legszigorúbb gyártási követelményeknek megfelelő, teljesen automata Wafer Prober – még gyorsabb és pontosabb
Rendkívül nagy áteresztési képesség
Legnagyobb tesztelési teljesítmény
Optikai mérőrendszer
Pontos navigálás
Legnagyobb tesztelési teljesítmény
Optikai mérőrendszer
Pontos navigálás
- Új fejlesztésű XY Stage hajtóegység és új számítási eljárás a különösen nagy áteresztőképesség érdekében
- Maximális tesztelési teljesítményt nyújtó, továbbfejlesztett Z platform – egyenletes érintkezést biztosít nagy felületű és High Pin Count Probe Cardokon
- Rendkívül stabil Z tengely nagy felületű tű tisztítóegységgel
- A 15 hüvelykes LCD érintőképernyőnek köszönhetően egyszerűen kezelhető
- Optical Target Scope (OTS) a Probe Card és a Chuck relatív helyzetének nagy pontosságú méréséhez
- Tri-Color 3-Level Magnifying színes felvételekhez, valamint 3 nagyítási fokozat
- Navigációs kijelzőfunkció – a felhasználó a lapkatérkép megérintésével egyszerűen eljuthat a lapka kívánt pontjához
