UF3000EX
En üst düzeydeki üretim beklentilerine yönelik tam otomatik Wafer Prober makineleri – daha yüksek hız ve daha hassas ölçümler
Son derece yüksek işlem hızı
Yüksek probe gücü
Optik ölçüm sistemi
Noktasal kesinlikte navigasyon
Yüksek probe gücü
Optik ölçüm sistemi
Noktasal kesinlikte navigasyon
- Yeni geliştirilen XY Stage tahrik ünitesi ve son derece yüksek verim için yeni hesaplama yöntemi
- Maksimum Probe gücü için geliştirilmiş Z platformu – büyük yüzey ve High Pin Count Probe kartları üzerine eşit temas için
- Geniş alanlı iğne temizleme ünitesi ile son derece sağlam Z ekseni
- Kolay kullanım için 15 inç LCD dokunmatik ekran
- ProbeCard ve Chuck’ın göreceli konumlarının yüksek hassasiyette ölçülmesi için Optical Target Scope (OTS)
- Renkli kayıt ve 3 büyütme seviyesi için Tri-Color 3-Level Magnifying
- Navigations Display işlevi – Wafermap üzerine dokunmanız yeter, bu sayede istediğiniz wafer noktasına ulaşabilirsiniz
