UF3000EX

Testeur sous pointes entièrement automatisé pour exigences maximales – encore plus rapide et précis

Débit extrêmement élevé

Force de test maximale

Système de mesure optique

Navigation avec la précision du point

Nouvelle unité d’entraînement XY et nouvelle méthode de calcul assurant un débit extrêmement élevé
Plateforme Z améliorée permettant une force de test maximale – pour un contact uniforme sur des cartes de test de grande surface et à nombre élevé de broches
Axe Z très stable avec unité de nettoyage d’aiguilles de grande surface
Utilisation facile grâce à un écran LCD tactile de 15 pouces
Optical Target Scope (OTS) permettant la mesure de grande précision des positions relatives de la carte de test et du mandrin
Tri-Color 3-Level Magnifying pour images en couleur et 3 niveaux de grossissement
Fonction de navigation sur écran – en touchant l’image du wafer, l’utilisateur peut atteindre un point quelconque du wafer